性 别

男

出生年月

1978.11

最高学历、学位

博士

职 称

研究员（教授）

职 务

无

电子邮箱

17751455752@163.com

个人简介

一、基本情况：

研究员（教授），博士，江苏省333高层次人才，姑苏紧缺人才，2007.3.31毕业于天津大学电气自动化与信息工程学院电力系统及其自动化专业。2007年4月加入中广核集团苏州热工研究院，长期从事电气设备状态评估、故障诊断与寿命预测方面的科研与工程技术服务方面的工作，2018年3月加入yd2333云顶电子游戏，现研究方向为基于人工智能的高低压电气设备智能感知与健康管理，物联网工程与工业大数据分析，机器学习+机器视觉在工业视觉检测领域的应用。

二、主要研究领域及学术成就：

主持或参与了国家重大专项、江苏省333人才专项、苏州市科技专项以及两项中广核集团尖峰计划，获得科研经费支持超1000万。提出了多种创新性的理论方法，取得了多项科技创新成果，2012、2014年两次获评中国核能行业协会（正部级）科学技术进步奖，多次获评中国广核集团（副部级）科技成果奖。主持开发了多台套检测装置或试验系统，其中“电气触电MCCR跟踪检测装置”被列入国家重点新产品计划。撰写学术论文近50余篇（EI检索14篇），申请专利50余项，其中发明专利30项（10项已授权），软件著作权7项。负责实施了数百项电气设备的检测、评估、失效分析与寿命预测等工程项目，具有丰富的现场工程经验以及海量的试验数据。

三、代表性科研成果：

1）王成山，石颉，考虑时间延迟影响的电力系统稳定器设计[J]，中国电机工程学报，2007，Vol.10，p1-6。

2）石颉，王成山，考虑广域信息时延影响的H∞阻尼控制器[J]，中国电机工程学报，2008，Vol.1，p30-34。

3）石颉，王成山，基于线性矩阵不等式理论的广域电力系统状态反馈控制器设计[J]，电网技术，2008，Vol.6，p36-41。

4）石颉，刘韬，基于测度理论的广域电力系统反馈信号最大允许时延分析[J],电力系统保护与控制，2008，Vol.12，p8-11。

5）Shi Jie，Yao Jianlin，Wang Yongnian，Shi Haining，Tu Fengsheng，Analysis on Contact Failure of Instrument and Control switch in Nuclear Power Plant[C]，16th IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS, 2009年6月，p485～488．

6）石颉，谌登华，施海宁等，核电站仪控开关可靠性数据分析与处理[J],核动力工程, 2010，31(2)：54-57．

7）石颉,核电站基于经验反馈的设备预防性更换周期的优化[J],核动力工程, 2010，31(3)：102-105,112．

8）石颉,基于寿命评估与经济性分析确定核电站触点开关的预防性维修周期[J],核动力工程, 2010，31(6)：106-112．

9）石颉，伍谨，敬兴全，陆永芳，变加速因子的低压熔断器寿命评估方法[J]，低压电器，2011，No.5，p5~10.

10）石颉，王公展，刘玉杰，陆永芳，姚建林，电源模块的失效分析与老化状态检测[J]，电源技术，2012，36（2），p232~234.

11）石颉，姚建林，朱斌，基于加速老化试验的电磁继电器寿命评估[J]，低压电器，2013，No.17，p58~62.

12）石颉，郑立军，高兵兵，核用O型圈的加速老化试验与寿命预测[J]，橡胶工业，2015年第62卷，第11期，p694-696.

13）石颉，王晓剑，张海松，郝万君.基于统计检验的发电机定子线棒绝缘热老化寿命评估[J].绝缘材料，2019，52(12)：46-52.

14）石颉，赵德宇，郝万君，王晓剑.基于变化活化能的变压器绝缘纸寿命评估模型的研究[J].绝缘材料，2020，53(09)：48-53.

15）石颉，孔维相，袁晨翔，赵德宇，陆群.基于统计检验的光电耦合器寿命预测模型研究[J].电子元件与材料，2020，39(04)：68-74+79.

16）石颉，袁晨翔，孔维相，赵德宇.基于电热加速老化的LED寿命评估检验方法研究[J].电子元件与材料，2020，39（8）：89-95.

17）Zhou C, Wang, J ,Li JX, SHI J. Thermal aging properties of flame retardant silicone rubber based on melamine cyanurate[J], JOURNAL OF APPLIED POLYMER SCIENCE, SCI 3区，e49919 DOI: 10.1002/app.49919，2020.